《掃描電鏡測(cè)長(zhǎng)問(wèn)題的討論》正式出版
發(fā)布日期：2006-08-22
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由周劍雄研究員等編寫(xiě)的四川電子科技大學(xué)正式出版的“掃描電鏡測(cè)長(zhǎng)問(wèn)題的討論”文集，將于2006年5月出版，歡迎選購(gòu)。 該文集不僅是掃描電鏡測(cè)長(zhǎng)領(lǐng)域的具有開(kāi)創(chuàng)性的研究成果方面的總結(jié)，也是掃描電鏡、電子探針以及電子顯微鏡、各類(lèi)光學(xué)顯微鏡、圖象分析儀等顯微實(shí)驗(yàn)室必備的分析測(cè)試手冊(cè)和工具，對(duì)于提高實(shí)驗(yàn)室的分析水平以及實(shí)驗(yàn)室的認(rèn)證和認(rèn)可具有重要意義。姚駿恩院士正為本書(shū)的出版作序，中國(guó)科學(xué)院常務(wù)副院長(zhǎng)（兼納米標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)主任）白春禮院士也將為本書(shū)題字。詳細(xì)介紹見(jiàn)microbeam.com.cn(中華微束分析技術(shù)網(wǎng))。 論文集將不僅是各有關(guān)實(shí)驗(yàn)室和實(shí)驗(yàn)人員的手冊(cè)，而且，對(duì)于廣大使用這類(lèi)儀器的科學(xué)技術(shù)人員和研究生也有重要的參考價(jià)值。
